hat jemand schon Unit-Tests für AVR Programme entwickelt oder weiss einen Hinweis darauf, wie das geht?
Natürlich in C, bei mir momentan C++, aber das dürfte kein Rolle spielen.
Zu einem Unit-Test gehört von Anwenderseite ja nicht viel dazu. Im Prinzip sind das ja normale Tests mit ganz normalen Code. Wenn Logik-Überprüfungen ausreichend sind, dann pack doch deine Tests einfach in Funktionen/Methoden die als return type boolean haben und schreib eine Testroutine die alle Funktionen durchgeht.

Mehr sind Unit Tests ja wirklich nicht.

Das so viel Trara darum gemacht wird, liegt vor allem daran, dass diese Tests in den Buildzyklus integriert werden können, also automatisiert statt finden, und wertvolle Informationen wie Code Coverage etc. liefern (was mit C als meist nativ-kompilierende Sprache ohne Metainformationen aufgrund der Compilervielfalt nicht ganz so einfach sein dürfte).

Als einzelner Mikrocontroller-Entwickler braucht man kein ganzes Build-System.

Unit-Tests werden oft zusammen mit Mock-Frameworks genutzt, die wohldefinierte Schnittstellen nachahmen. Dies ist im wesentlichen Code-Generierung zur Laufzeit.

Hier gibt es CUnit, damit sollte jegliche Logik testbar sein.